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連接器接插件環境規範要求之鍍層針孔試驗

來源:本站   發布時間:2019/01/02  

上篇我們簡述了“連接器接插件環境規範要求之高溫測試”,接下來,bob体彩官网精密小編給大家分享“連接器接插件環境規範要求之鍍層針孔試驗”。

測試名稱連接器接插件環境規範要求之鍍層針孔試驗

測試目的:為了造就鍍層針孔規模大小及嚴重程度,並在接觸表麵形成不純的物質。針孔或不純物質所占有的區域,為端子之底材或電鍍層厚度不夠所致。而這些區域有足夠規模去擴散來影響接觸表麵,危害到樣本的電氣特性。

測試依據:業界規範EIA-364-53

測試設備:1、密閉容器;2、實體顯微鏡

測試方法:

1、測試樣品必須清洗。利用三氯乙烷及高純度酒精之蒸氣大油漬去除。

2、將足夠計量之硝酸(50~100ml/liter、70±1%NHO3)放置於密閉容器中,而使其在容器蒸發呈現飽和狀態,注意將容器置於室溫下的環境且相對濕度<60%RH.

3、硝酸溶液呈現飽和狀態,至少維持15分鍾後,再將受測樣本放入容器,使其暴露於氣體中約75±10分鍾。

4、將樣品移出密閉容器,放置於烤箱中維持125±5℃之室溫下。

5、1~2小時內以10X放大鏡(實體顯微鏡)觀察是否有腐蝕等不良。

注意事項:

樣本放置於容器中,必須離容器壁1Inch以上、離溶液液麵3Inch以上。

連接器接插件環境規範要求之鍍層針孔試驗

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